太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備的范圍、引用標(biāo)準(zhǔn)和檢定項(xiàng)目
1范圍：
1. 1 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器 、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。
1- 2本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì) GB/T 24 23. 24-1995《 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分 ：試驗(yàn)方法   試驗(yàn)Sa :模擬地面上的太陽(yáng)輻射 》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類(lèi)似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定 。
2引用標(biāo)準(zhǔn)：
下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文 。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效 。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂 ，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性 。
GB/T  5170. 1-1995   電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法；     
GB/ T  5170. 2-1996  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   溫度試驗(yàn)設(shè)備；
GB/ T  2423. 241995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)   第 2 部分 ：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Sa ：模擬地面上的太陽(yáng)輻射
3 檢定項(xiàng)目：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢定項(xiàng)目如下 ：
一一幅射強(qiáng)度及其光譜能量（紫外線(xiàn)可見(jiàn)光 、紅外線(xiàn)輻射強(qiáng)度）分布；
一一溫度偏差 ；
一一溫度變化速率 ；
 一一 風(fēng)速 。